Исследование полупроводниковых диодов и стабилитронов

Лабораторная работа по предмету «Физика»
Информация о работе
  • Тема: Исследование полупроводниковых диодов и стабилитронов
  • Количество скачиваний: 2
  • Тип: Лабораторная работа
  • Предмет: Физика
  • Количество страниц: 4
  • Язык работы: Русский язык
  • Дата загрузки: 2021-12-07 12:51:37
  • Размер файла: 406.25 кб
Помогла работа? Поделись ссылкой
Информация о документе

Документ предоставляется как есть, мы не несем ответственности, за правильность представленной в нём информации. Используя информацию для подготовки своей работы необходимо помнить, что текст работы может быть устаревшим, работа может не пройти проверку на заимствования.

Если Вы являетесь автором текста представленного на данной странице и не хотите чтобы он был размешён на нашем сайте напишите об этом перейдя по ссылке: «Правообладателям»

Можно ли скачать документ с работой

Да, скачать документ можно бесплатно, без регистрации перейдя по ссылке:


ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА №2

«Исследование полупроводниковых диодов и стабилитронов»

Цель работы:

Исследование устройства, принцип действия, систему обозначений полупроводниковых диодов.

Снятие и анализ вольтамперных характеристик полупроводникового выпрямительного диода, стабилитрона и тиристора; определение их параметров по характеристикам.

Эксперимент 1 – Изучение параметров модели диода

Цели:

Изучить основные параметры диода, используя справочную литературу;

Сравнить справочные данные с данными модели;

Исходные данные:

Марка диода;

Результаты эксперимента

Наименование

Описание

Параметр

Единицы

По умолчанию

IS

Ток насыщения

9.94e-06

A

0

RS

Паразитное сопротивление

0.00653

Ω

0

N

Коэффициент инжекции

2


0

TT

Время переноса заряда

7.237e-07

sec

0

CJO

Барьерная емкость при нулевом смещении

4.528e-10

F

0

VJ

Контактная разность потенциалов переходов

0.5189

V

0

M

Коэффициент плавности перехода

0.4269


0

EG

Энергетический барьер

1.11

eV

0

XTI

Температурный показатель тока насыщения

3


0

KF

Коэффициент, определяющий спектральную плотность фликер-шума

0


0

AF

Показатель степени, определяющий зависимость спектральной плотности фликер-шума

1


0

FC

Коэффициент емкости эмиттерного перехода при прямом смещении

0.5


0

BV

Обратное напряжение пробоя

100

V

0

IBV

Обратный ток пробоя

0.0001

A

0

IBVL

Начальный обратный ток пробоя

1.0

A

1

IKF

Предельный ток при высоком уровне инжекции

1e30

A

1

ISR

Параметр тока рекомбинации

0.0

A

1

NBV

Коэффициент неидеальности на участке пробоя

1.0


1

NBVL

Коэффициент неидеальности на участке пробоя низкого уровня

1.0


1

NR

Коэффициент эмиссии ISR

2.0


1

TBV1

Линейный температурный коэффициент емкости BV

0.0

1/°C

1

TBV2

Квадратичный температурный коэффициент емкости BV

0.0

1/°C²

1

TIKF

Линейный температурный коэффициент емкости IKF

0.0

1/°C

1

TRS1

Линейный температурный коэффициент емкости RS

0.0

1/°C

1

TRS2

Квадратичный температурный коэффициент емкости RS

0.0

1/°C²

1

TNOM

Температура транзистора

27

°C

0

T_MEASURED

Температура транзистора

27

°C

1

T_ABS

Рабочая температура

27

°C

1

T_REL_GLOBAL

Изменить относительную температуру на общую

0

°C

1


Эксперимент 2 – Изучение вольт-амперной характеристики диода

Примерное время выполнения: 30 минут

Цели:

Получить ВАХ диода;

Измерить статическое и дифференциальное сопротивление диода в указанных точках.

Исходные данные:

Марка диода;

Прямое напряжение для расчета сопротивления;

Величина сопротивления ограничительного резистора;